微型 IC 測(cè)試分類機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 微型 IC 測(cè)試分類機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): Model 3270
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
Chroma 3270 能同時(shí)處理32個(gè)待測(cè)物進(jìn)行平行測(cè)試，并提供50?C~125?C高溫測(cè)試選擇。不但能提高產(chǎn)量，提升生產(chǎn)良率，同時(shí)大幅降低測(cè)試成本。
微型 IC 測(cè)試分類機(jī)
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求
- 可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī)
- 3x3 mm 微型 IC 處理能力
- 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力
- 自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí)
- IC 殘留檢測(cè)功能Chroma 3270 是一款**的微型 IC 測(cè)試分類機(jī)，特別適合 CMOS 影像感應(yīng)組件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動(dòng)到測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品置于適當(dāng)之 Tray 盤。
