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        產品資料
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        觸控薄膜瑕疵檢測系統

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        產品名稱: 觸控薄膜瑕疵檢測系統
        產品型號: 7505-02
        產品展商: Chroma
        產品文檔: 無相關文檔

        簡單介紹

        Chroma*新一代7505-02觸控薄膜瑕疵檢測系統適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測。


        觸控薄膜瑕疵檢測系統  的詳細介紹

        觸控薄膜瑕疵檢測系統主要特色:
        • 適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測
        • 配備高解析度線型掃描相機,可檢出氣泡及刮傷等臟污及瑕疵
        • 使用多支相機同時進行取像,檢測速度快
        • 配備位置控制和反饋系統,可得到**及清晰的掃描圖像
        • 系統具備定位標靶識別功能、地圖對應功能*


        Chroma*新一代7505-02觸控薄膜瑕疵檢測系統適用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜等連續式(Roll to Roll)制程線上即時自動光學檢測。主要運用CCD 對電容式觸控面板表面進行影像拍攝,為以PC-based架構的線掃描(Line-scan)影像檢測系統,應用視覺顯像檢測核心技術,高感光度線性掃描(Line-scan)攝影機,低像差變形鏡頭(Lens),高亮度燈源(Lighting),高速影像擷取卡(Frame Grabber)等。透過即時的同步觸發取像并搭配高速的瑕疵檢出判斷技術,以及精準的記憶體管控技術,達到高速不中斷的連續檢測, 進行2D 表面瑕疵分析。


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